A measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays is presented, based on 4.4 × 106K± → π0e±νe (Ke3±) and 2.3 × 106K± → π0μ±νμ (Kμ3±) decays collected in 2004 by the NA48/2 experiment. The results are obtained with improved precision as compared to earlier measurements. The combination of measurements in the Ke3± and Kμ3± modes is also presented.

Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays / Batley, J. R.; Kalmus, G.; Lazzeroni, C.; Munday, D. J.; Slater, M. W.; Wotton, S. A.; Arcidiacono, R.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Ceccucci, A.; Cundy, D.; Falaleev, V.; Fidecaro, M.; Gatignon, L.; Gonidec, A.; Kubischta, W.; Maier, A.; Norton, A.; Patel, M.; Peters, A.; Balev, S.; Frabetti, P. L.; Gersabeck, E.; Goudzovski, E.; Hristov, P.; Kekelidze, V.; Kozhuharov, V.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Molokanova, N.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Y.; Shkarovskiy, S.; Stoynev, S.; Zinchenko, A.; Monnier, E.; Swallow, E.; Winston, R.; Rubin, P.; Walker, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; Fiorini, M.; Martini, M.; Petrucci, F.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Wahl, H.; Baldini, W.; Cotta Ramusino, A.; Gianoli, A.; Calvetti, M.; Celeghini, E.; Iacopini, E.; Lenti, M.; Ruggiero, G.; Bizzeti, A.; Veltri, M.; Behler, M.; Eppard, K.; Hita-Hochgesand, M.; Kleinknecht, K.; Marouelli, P.; Masetti, L.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Renk, B.; Wache, M.; Wanke, R.; Winhart, A.; Coward, D.; Dabrowski, A.; Fonseca Martin, T.; Shieh, M.; Szleper, M.; Velasco, M.; Wood, M. D.; Anzivino, G.; Imbergamo, E.; Nappi, A.; Piccini, M.; Raggi, M.; Valdata-Nappi, M.; Cenci, P.; Pepe, M.; Petrucci, M. C.; Costantini, F.; Doble, N.; Fiorini, L.; Giudici, S.; Pierazzini, G.; Sozzi, M.; Venditti, S.; Collazuol, G.; Dilella, L.; Lamanna, G.; Mannelli, I.; Michetti, A.; Cerri, C.; Fantechi, R.; Bloch-Devaux, B.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; De Beer, M.; Derre, J.; Marel, G.; Mazzucato, E.; Peyaud, B.; Vallage, B.; Holder, M.; Ziolkowski, M.; Bifani, S.; Clemencic, M.; Goy Lopez, S.; Biino, C.; Cartiglia, N.; Marchetto, F.; Dibon, H.; Jeitler, M.; Markytan, M.; Mikulec, I.; Neuhofer, G.; Widhalm, L.. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - 2018:10(2018), pp. N/A-N/A. [10.1007/JHEP10(2018)150]

Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays

Bizzeti A.;
2018

Abstract

A measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays is presented, based on 4.4 × 106K± → π0e±νe (Ke3±) and 2.3 × 106K± → π0μ±νμ (Kμ3±) decays collected in 2004 by the NA48/2 experiment. The results are obtained with improved precision as compared to earlier measurements. The combination of measurements in the Ke3± and Kμ3± modes is also presented.
2018
2018
10
N/A
N/A
WOS:000449293400001
2-s2.0-85056101734
Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays / Batley, J. R.; Kalmus, G.; Lazzeroni, C.; Munday, D. J.; Slater, M. W.; Wotton, S. A.; Arcidiacono, R.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Ceccucci, A.; Cundy, D.; Falaleev, V.; Fidecaro, M.; Gatignon, L.; Gonidec, A.; Kubischta, W.; Maier, A.; Norton, A.; Patel, M.; Peters, A.; Balev, S.; Frabetti, P. L.; Gersabeck, E.; Goudzovski, E.; Hristov, P.; Kekelidze, V.; Kozhuharov, V.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Molokanova, N.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Y.; Shkarovskiy, S.; Stoynev, S.; Zinchenko, A.; Monnier, E.; Swallow, E.; Winston, R.; Rubin, P.; Walker, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; Fiorini, M.; Martini, M.; Petrucci, F.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Wahl, H.; Baldini, W.; Cotta Ramusino, A.; Gianoli, A.; Calvetti, M.; Celeghini, E.; Iacopini, E.; Lenti, M.; Ruggiero, G.; Bizzeti, A.; Veltri, M.; Behler, M.; Eppard, K.; Hita-Hochgesand, M.; Kleinknecht, K.; Marouelli, P.; Masetti, L.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Renk, B.; Wache, M.; Wanke, R.; Winhart, A.; Coward, D.; Dabrowski, A.; Fonseca Martin, T.; Shieh, M.; Szleper, M.; Velasco, M.; Wood, M. D.; Anzivino, G.; Imbergamo, E.; Nappi, A.; Piccini, M.; Raggi, M.; Valdata-Nappi, M.; Cenci, P.; Pepe, M.; Petrucci, M. C.; Costantini, F.; Doble, N.; Fiorini, L.; Giudici, S.; Pierazzini, G.; Sozzi, M.; Venditti, S.; Collazuol, G.; Dilella, L.; Lamanna, G.; Mannelli, I.; Michetti, A.; Cerri, C.; Fantechi, R.; Bloch-Devaux, B.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; De Beer, M.; Derre, J.; Marel, G.; Mazzucato, E.; Peyaud, B.; Vallage, B.; Holder, M.; Ziolkowski, M.; Bifani, S.; Clemencic, M.; Goy Lopez, S.; Biino, C.; Cartiglia, N.; Marchetto, F.; Dibon, H.; Jeitler, M.; Markytan, M.; Mikulec, I.; Neuhofer, G.; Widhalm, L.. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - 2018:10(2018), pp. N/A-N/A. [10.1007/JHEP10(2018)150]
Batley, J. R.; Kalmus, G.; Lazzeroni, C.; Munday, D. J.; Slater, M. W.; Wotton, S. A.; Arcidiacono, R.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Ceccucci, A.; Cundy, D.; Falaleev, V.; Fidecaro, M.; Gatignon, L.; Gonidec, A.; Kubischta, W.; Maier, A.; Norton, A.; Patel, M.; Peters, A.; Balev, S.; Frabetti, P. L.; Gersabeck, E.; Goudzovski, E.; Hristov, P.; Kekelidze, V.; Kozhuharov, V.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Molokanova, N.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Y.; Shkarovskiy, S.; Stoynev, S.; Zinchenko, A.; Monnier, E.; Swallow, E.; Winston, R.; Rubin, P.; Walker, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; Fiorini, M.; Martini, M.; Petrucci, F.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Wahl, H.; Baldini, W.; Cotta Ramusino, A.; Gianoli, A.; Calvetti, M.; Celeghini, E.; Iacopini, E.; Lenti, M.; Ruggiero, G.; Bizzeti, A.; Veltri, M.; Behler, M.; Eppard, K.; Hita-Hochgesand, M.; Kleinknecht, K.; Marouelli, P.; Masetti, L.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Renk, B.; Wache, M.; Wanke, R.; Winhart, A.; Coward, D.; Dabrowski, A.; Fonseca Martin, T.; Shieh, M.; Szleper, M.; Velasco, M.; Wood, M. D.; Anzivino, G.; Imbergamo, E.; Nappi, A.; Piccini, M.; Raggi, M.; Valdata-Nappi, M.; Cenci, P.; Pepe, M.; Petrucci, M. C.; Costantini, F.; Doble, N.; Fiorini, L.; Giudici, S.; Pierazzini, G.; Sozzi, M.; Venditti, S.; Collazuol, G.; Dilella, L.; Lamanna, G.; Mannelli, I.; Michetti, A.; Cerri, C.; Fantechi, R.; Bloch-Devaux, B.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; De Beer, M.; Derre, J.; Marel, G.; Mazzucato, E.; Peyaud, B.; Vallage, B.; Holder, M.; Ziolkowski, M.; Bifani, S.; Clemencic, M.; Goy Lopez, S.; Biino, C.; Cartiglia, N.; Marchetto, F.; Dibon, H.; Jeitler, M.; Markytan, M.; Mikulec, I.; Neuhofer, G.; Widhalm, L.
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