Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
A study of the decay D0→K-π+μ+μ-is performed using data collected by the LHCb detector in proton-proton collisions at a centre-of-mass energy of 8 TeV, corresponding to an integrated luminosity of 2.0 fb-1. Decay candidates with muon pairs that have an invariant mass in the range 675-875 MeV/c2are considered. This region is dominated by the ρ0and ω resonances. The branching fraction in this range is measured to beB(D0→K-π+μ+μ-)=(4.17±0.12(stat)±0.40(syst))×10-6. This is the first observation of the decay D0→K-π+μ+μ-. Its branching fraction is consistent with the value expected in the Standard Model.
First observation of the decay D0→K-π+μ+μ-in the ρ0-ω region of the dimuon mass spectrum / Aaij, R.; Abellan Beteta, C.; Adeva, B.; Adinolfi, M.; Affolder, A.; Ajaltouni, Z.; Akar, S.; Albrecht, J.; Alessio, F.; Alexander, M.; Ali, S.; Alkhazov, G.; Alvarez Cartelle, P.; Alves, A. A.; Amato, S.; Amerio, S.; Amhis, Y.; An, L.; Anderlini, L.; Anderson, J.; Andreassi, G.; Andreotti, M.; Andrews, J. E.; Appleby, R. B.; Aquines Gutierrez, O.; Archilli, F.; D'Argent, P.; Artamonov, A.; Artuso, M.; Aslanides, E.; Auriemma, G.; Baalouch, M.; Bachmann, S.; Back, J. J.; Badalov, A.; Baesso, C.; Baldini, W.; Barlow, R. J.; Barschel, C.; Barsuk, S.; Barter, W.; Batozskaya, V.; Battista, V.; Bay, A.; Beaucourt, L.; Beddow, J.; Bedeschi, F.; Bediaga, I.; Bel, L. J.; Bellee, V.; Belloli, N.; Belyaev, I.; Ben-Haim, E.; Bencivenni, G.; Benson, S.; Benton, J.; Berezhnoy, A.; Bernet, R.; Bertolin, A.; Bettler, M. -O.; van Beuzekom, M.; Bien, A.; Bifani, S.; Billoir, P.; Bird, T.; Birnkraut, A.; Bizzeti, A.; Blake, T.; Blanc, F.; Blouw, J.; Blusk, S.; Bocci, V.; Bondar, A.; Bondar, N.; Bonivento, W.; Borghi, S.; Borsato, M.; Bowcock, T. J. V.; Bowen, E.; Bozzi, C.; Braun, S.; Britsch, M.; Britton, T.; Brodzicka, J.; Brook, N. H.; Buchanan, E.; Burr, C.; Bursche, A.; Buytaert, J.; Cadeddu, S.; Calabrese, R.; Calvi, M.; Calvo Gomez, M.; Campana, P.; Campora Perez, D.; Capriotti, L.; Carbone, A.; Carboni, G.; Cardinale, R.; Cardini, A.; Carniti, P.; Carson, L.; Carvalho Akiba, K.; Casse, G.; Cassina, L.; Castillo Garcia, L.; Cattaneo, M.; Cauet, C.; Cavallero, G.; Cenci, R.; Charles, M.; Charpentier, P.; Chefdeville, M.; Chen, S.; Cheung, S. -F.; Chiapolini, N.; Chrzaszcz, M.; Cid Vidal, X.; Ciezarek, G.; Clarke, P. E. L.; Clemencic, M.; Cliff, H. V.; Closier, J.; Coco, V.; Cogan, J.; Cogneras, E.; Cogoni, V.; Cojocariu, L.; Collazuol, G.; Collins, P.; Comerma-Montells, A.; Contu, A.; Cook, A.; Coombes, M.; Coquereau, S.; Corti, G.; Corvo, M.; Couturier, B.; Cowan, G. A.; Craik, D. C.; Crocombe, A.; Cruz Torres, M.; Cunliffe, S.; Currie, R.; D'Ambrosio, C.; Dall'Occo, E.; Dalseno, J.; David, P. N. Y.; Davis, A.; De Aguiar Francisco, O.; De Bruyn, K.; De Capua, S.; De Cian, M.; De Miranda, J. M.; De Paula, L.; De Simone, P.; Dean, C. -T.; Decamp, D.; Deckenhoff, M.; Del Buono, L.; Deleage, N.; Demmer, M.; Derkach, D.; Deschamps, O.; Dettori, F.; Dey, B.; Di Canto, A.; Di Ruscio, F.; Dijkstra, H.; Donleavy, S.; Dordei, F.; Dorigo, M.; Dosil Suarez, A.; Dossett, D.; Dovbnya, A.; Dreimanis, K.; Dufour, L.; Dujany, G.; Dupertuis, F.; Durante, P.; Dzhelyadin, R.; Dziurda, A.; Dzyuba, A.; Easo, S.; Egede, U.; Egorychev, V.; Eidelman, S.; Eisenhardt, S.; Eitschberger, U.; Ekelhof, R.; Eklund, L.; El Rifai, I.; Elsasser, C.; Ely, S.; Esen, S.; Evans, H. M.; Evans, T.; Falabella, A.; Farber, C.; Farley, N.; Farry, S.; Fay, R.; Ferguson, D.; Fernandez Albor, V.; Ferrari, F.; Ferreira Rodrigues, F.; Ferro-Luzzi, M.; Filippov, S.; Fiore, M.; Fiorini, M.; Firlej, M.; Fitzpatrick, C.; Fiutowski, T.; Fohl, K.; Fol, P.; Fontana, M.; Fontanelli, F.; Forshaw, D. C.; Forty, R.; Frank, M.; Frei, C.; Frosini, M.; Fu, J.; Furfaro, E.; Gallas Torreira, A.; Galli, D.; Gallorini, S.; Gambetta, S.; Gandelman, M.; Gandini, P.; Gao, Y.; Garcia Pardinas, J.; Garra Tico, J.; Garrido, L.; Gascon, D.; Gaspar, C.; Gauld, R.; Gavardi, L.; Gazzoni, G.; Gerick, D.; Gersabeck, E.; Gersabeck, M.; Gershon, T.; Ghez, P.; Gianiy, S.; Gibson, V.; Girard, O. G.; Giubega, L.; Gligorov, V. V.; Gobel, C.; Golubkov, D.; Golutvin, A.; Gomes, A.; Gotti, C.; Grabalosa Gandara, M.; Graciani Diaz, R.; Granado Cardoso, L. A.; Grauges, E.; Graverini, E.; Graziani, G.; Grecu, A.; Greening, E.; Gregson, S.; Griffith, P.; Grillo, L.; Grunberg, O.; Gui, B.; Gushchin, E.; Guz, Y.; Gys, T.; Hadavizadeh, T.; Hadjivasiliou, C.; Haefeli, G.; Haen, C.; Haines, S. C.; Hall, S.; Hamilton, B.; Han, X.; Hansmann-Menzemer, S.; Harnew, N.; Harnew, S. T.; Harrison, J.; He, J.; Head, T.; Heijne, V.; Heister, A.; Hennessy, K.; Henrard, P.; Henry, L.; van Herwijnen, E.; Hess, M.; Hicheur, A.; Hill, D.; Hoballah, M.; Hombach, C.; Hulsbergen, W.; Humair, T.; Hussain, N.; Hutchcroft, D.; Hynds, D.; Idzik, M.; Ilten, P.; Jacobsson, R.; Jaeger, A.; Jalocha, J.; Jans, E.; Jawahery, A.; Jing, F.; John, M.; Johnson, D.; Jones, C. R.; Joram, C.; Jost, B.; Jurik, N.; Kandybei, S.; Kanso, W.; Karacson, M.; Karbach, T. M.; Karodia, S.; Kecke, M.; Kelsey, M.; Kenyon, I. R.; Kenzie, M.; Ketel, T.; Khairullin, E.; Khanji, B.; Khurewathanakul, C.; Kirn, T.; Klaver, S.; Klimaszewski, K.; Kochebina, O.; Kolpin, M.; Komarov, I.; Koopman, R. F.; Koppenburg, P.; Kozeiha, M.; Kravchuk, L.; Kreplin, K.; Kreps, M.; Krocker, G.; Krokovny, P.; Kruse, F.; Krzemien, W.; Kucewicz, W.; Kucharczyk, M.; Kudryavtsev, V.; Kuonen, A. K.; Kurek, K.; Kvaratskheliya, T.; Lacarrere, D.; Lafferty, G.; Lai, A.; Lambert, D.; Lanfranchi, G.; Langenbruch, C.; Langhans, B.; Latham, T.; Lazzeroni, C.; Le Gac, R.; van Leerdam, J.; Lees, J. -P.; Lefevre, R.; Leflat, A.; Lefrancois, J.; Lemos Cid, E.; Leroy, O.; Lesiak, T.; Leverington, B.; Li, Y.; Likhomanenko, T.; Liles, M.; Lindner, R.; Linn, C.; Lionetto, F.; Liu, B.; Liu, X.; Loh, D.; Longstaff, I.; Lopes, J. H.; Lucchesi, D.; Lucio Martinez, M.; Luo, H.; Lupato, A.; Luppi, E.; Lupton, O.; Lusiani, A.; Machefert, F.; Maciuc, F.; Maev, O.; Maguire, K.; Malde, S.; Malinin, A.; Manca, G.; Mancinelli, G.; Manning, P.; Mapelli, A.; Maratas, J.; Marchand, J. F.; Marconi, U.; Marin Benito, C.; Marino, P.; Marks, J.; Martellotti, G.; Martin, M.; Martinelli, M.; Martinez Santos, D.; Martinez Vidal, F.; Martins Tostes, D.; Massafferri, A.; Matev, R.; Mathad, A.; Mathe, Z.; Matteuzzi, C.; Mauri, A.; Maurin, B.; Mazurov, A.; Mccann, M.; Mccarthy, J.; Mcnab, A.; Mcnulty, R.; Meadows, B.; Meier, F.; Meissner, M.; Melnychuk, D.; Merk, M.; Michielin, E.; Milanes, D. A.; Minard, M. -N.; Mitzel, D. S.; Molina Rodriguez, J.; Monroy, I. A.; Monteil, S.; Morandin, M.; Morawski, P.; Morda, A.; Morello, M. J.; Moron, J.; Morris, A. B.; Mountain, R.; Muheim, F.; Muller, D.; Muller, J.; Muller, K.; Muller, V.; Mussini, M.; Muster, B.; Naik, P.; Nakada, T.; Nandakumar, R.; Nandi, A.; Nasteva, I.; Needham, M.; Neri, N.; Neubert, S.; Neufeld, N.; Neuner, M.; Nguyen, A. D.; Nguyen, T. D.; Nguyen-Mau, C.; Niess, V.; Niet, R.; Nikitin, N.; Nikodem, T.; Novoselov, A.; O'Hanlon, D. P.; Oblakowska-Mucha, A.; Obraztsov, V.; Ogilvy, S.; Okhrimenko, O.; Oldeman, R.; Onderwater, C. J. G.; Osorio Rodrigues, B.; Otalora Goicochea, J. M.; Otto, A.; Owen, P.; Oyanguren, A.; Palano, A.; Palombo, F.; Palutan, M.; Panman, J.; Papanestis, A.; Pappagallo, M.; Pappalardo, L. L.; Pappenheimer, C.; Parker, W.; Parkes, C.; Passaleva, G.; Patel, G. D.; Patel, M.; Patrignani, C.; Pearce, A.; Pellegrino, A.; Penso, G.; Pepe Altarelli, M.; Perazzini, S.; Perret, P.; Pescatore, L.; Petridis, K.; Petrolini, A.; Petruzzo, M.; Picatoste Olloqui, E.; Pietrzyk, B.; Pilar, T.; Pinci, D.; Pistone, A.; Piucci, A.; Playfer, S.; Plo Casasus, M.; Poikela, T.; Polci, F.; Poluektov, A.; Polyakov, I.; Polycarpo, E.; Popov, A.; Popov, D.; Popovici, B.; Potterat, C.; Price, E.; Price, J. D.; Prisciandaro, J.; Pritchard, A.; Prouve, C.; Pugatch, V.; Puig Navarro, A.; Punzi, G.; Qian, W.; Quagliani, R.; Rachwal, B.; Rademacker, J. H.; Rama, M.; Rangel, M. S.; Raniuk, I.; Rauschmayr, N.; Raven, G.; Redi, F.; Reichert, S.; Reid, M. M.; dos Reis, A. C.; Ricciardi, S.; Richards, S.; Rihl, M.; Rinnert, K.; Rives Molina, V.; Robbe, P.; Rodrigues, A. B.; Rodrigues, E.; Rodriguez Lopez, J. A.; Rodriguez Perez, P.; Roiser, S.; Romanovsky, V.; Romero Vidal, A.; Ronayne, J. W.; Rotondo, M.; Rouvinet, J.; Ruf, T.; Ruiz Valls, P.; Saborido Silva, J. J.; Sagidova, N.; Sail, P.; Saitta, B.; Salustino Guimaraes, V.; Sanchez Mayordomo, C.; Sanmartin Sedes, B.; Santacesaria, R.; Santamarina Rios, C.; Santimaria, M.; Santovetti, E.; Sarti, A.; Satriano, C.; Satta, A.; Saunders, D. M.; Savrina, D.; Schael, S.; Schiller, M.; Schindler, H.; Schlupp, M.; Schmelling, M.; Schmelzer, T.; Schmidt, B.; Schneider, O.; Schopper, A.; Schubiger, M.; Schune, M. -H.; Schwemmer, R.; Sciascia, B.; Sciubba, A.; Semennikov, A.; Serra, N.; Serrano, J.; Sestini, L.; Seyfert, P.; Shapkin, M.; Shapoval, I.; Shcheglov, Y.; Shears, T.; Shekhtman, L.; Shevchenko, V.; Shires, A.; Siddi, B. G.; Silva Coutinho, R.; Silva de Oliveira, L.; Simi, G.; Sirendi, M.; Skidmore, N.; Skwarnicki, T.; Smith, E.; Smith, E.; Smith, I. T.; Smith, J.; Smith, M.; Snoek, H.; Sokoloff, M. D.; Soler, F. J. P.; Soomro, F.; Souza, D.; Souza De Paula, B.; Spaan, B.; Spradlin, P.; Sridharan, S.; Stagni, F.; Stahl, M.; Stahl, S.; Stefkova, S.; Steinkamp, O.; Stenyakin, O.; Stevenson, S.; Stoica, S.; Stone, S.; Storaci, B.; Stracka, S.; Straticiuc, M.; Straumann, U.; Sun, L.; Sutcliffe, W.; Swientek, K.; Swientek, S.; Syropoulos, V.; Szczekowski, M.; Szumlak, T.; T'Jampens, S.; Tayduganov, A.; Tekampe, T.; Teklishyn, M.; Tellarini, G.; Teubert, F.; Thomas, C.; Thomas, E.; van Tilburg, J.; Tisserand, V.; Tobin, M.; Todd, J.; Tolk, S.; Tomassetti, L.; Tonelli, D.; Topp-Joergensen, S.; Torr, N.; Tournefier, E.; Tourneur, S.; Trabelsi, K.; Tran, M. T.; Tresch, M.; Trisovic, A.; Tsaregorodtsev, A.; Tsopelas, P.; Tuning, N.; Ukleja, A.; Ustyuzhanin, A.; Uwer, U.; Vacca, C.; Vagnoni, V.; Valenti, G.; Vallier, A.; Vazquez Gomez, R.; Vazquez Regueiro, P.; Vazquez Sierra, C.; Vecchi, S.; van Veghel, M.; Velthuis, J. J.; Veltri, M.; Veneziano, G.; Vesterinen, M.; Viaud, B.; Vieira, D.; Vieites Diaz, M.; Vilasis-Cardona, X.; Volkov, V.; Vollhardt, A.; Volyanskyy, D.; Voong, D.; Vorobyev, A.; Vorobyev, V.; Voss, C.; de Vries, J. A.; Waldi, R.; Wallace, C.; Wallace, R.; Walsh, J.; Wandernoth, S.; Wang, J.; Ward, D. R.; Watson, N. K.; Websdale, D.; Weiden, A.; Whitehead, M.; Wilkinson, G.; Wilkinson, M.; Williams, M.; Williams, M. P.; Williams, M.; Williams, T.; Wilson, F. F.; Wimberley, J.; Wishahi, J.; Wislicki, W.; Witek, M.; Wormser, G.; Wotton, S. A.; Wright, S.; Wyllie, K.; Xie, Y.; Xu, Z.; Yang, Z.; Yu, J.; Yuan, X.; Yushchenko, O.; Zangoli, M.; Zavertyaev, M.; Zhang, L.; Zhang, Y.; Zhelezov, A.; Zhokhov, A.; Zhong, L.; Zhukov, V.; Zucchelli, S.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - 757:(2016), pp. 558-567. [10.1016/j.physletb.2016.04.029]
First observation of the decay D0→K-π+μ+μ-in the ρ0-ω region of the dimuon mass spectrum
A study of the decay D0→K-π+μ+μ-is performed using data collected by the LHCb detector in proton-proton collisions at a centre-of-mass energy of 8 TeV, corresponding to an integrated luminosity of 2.0 fb-1. Decay candidates with muon pairs that have an invariant mass in the range 675-875 MeV/c2are considered. This region is dominated by the ρ0and ω resonances. The branching fraction in this range is measured to beB(D0→K-π+μ+μ-)=(4.17±0.12(stat)±0.40(syst))×10-6. This is the first observation of the decay D0→K-π+μ+μ-. Its branching fraction is consistent with the value expected in the Standard Model.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1209610
Citazioni
ND
29
18
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. L’Università di Modena e Reggio Emilia non si assume alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione.