Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
The decay B0 → DK*0 and the charge conjugate mode are studied using 1.0 fb−1 of pp collision data collected by the LHCb experiment at √s = 7 TeV in 2011. The CP asymmetry between the B0 → DK*0 and the B0 → DK*0 decay rates, with the neutral D meson in the CP-even final state K+K−‚ is found to be AdKK = −0.45 ± 0.23 ± 0.02, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic. In addition, favoured B0 → DK*0 decays are reconstructed with the D meson in the non-CP eigenstate K+π−. The ratio of the B-flavour averaged decay rates in D decays to CP and non-CP eigenstates is measured to be RdKK = 1.36 +0.37−0.32 ± 0.07, where the ratio of the branching fractions of D0 → K−π+ to D0 → K+K− decays is included as multiplicative factor. The CP asymmetries measured with two control channels, the favoured B0 → DK*0 decay with D → K+π− and the B0s → DK*0 decay with D → K+K−, are also reported.
Measurement of CP observables in B0 → DK*0 with D → K+K− / Aaij, R.; Beteta, C. A.; Adametz, A.; Adeva, B.; Adinolfi, M.; Adrover, C.; Affolder, A.; Ajaltouni, Z.; Albrecht, J.; Alessio, F.; Alexander, M.; Ali, S.; Alkhazov, G.; Cartelle, P. A.; Alves, A. A.; Amato, S.; Amhis, Y.; Anderlini, L.; Anderson, J.; Andreassen, R.; Appleby, R. B.; Gutierrez, O. A.; Archilli, F.; Artamonov, A.; Artuso, M.; Aslanides, E.; Auriemma, G.; Bachmann, S.; Back, J. J.; Baesso, C.; Balagura, V.; Baldini, W.; Barlow, R. J.; Barschel, C.; Barsuk, S.; Barter, W.; Bates, A.; Bauer, T.; Bay, A.; Beddow, J.; Bediaga, I.; Belogurov, S.; Belous, K.; Belyaev, I.; Ben-Haim, E.; Benayoun, M.; Bencivenni, G.; Benson, S.; Benton, J.; Berezhnoy, A.; Bernet, R.; Bettler, M. O.; Van Beuzekom, M.; Bien, A.; Bifani, S.; Bird, T.; Bizzeti, A.; Bjrnstad, P. M.; Blake, T.; Blanc, F.; Blanks, C.; Blouw, J.; Blusk, S.; Bobrov, A.; Bocci, V.; Bondar, A.; Bondar, N.; Bonivento, W.; Borghi, S.; Borgia, A.; Bowcock, T. J. V.; Bowen, E.; Bozzi, C.; Brambach, T.; Van Den Brand, J.; Bressieux, J.; Brett, D.; Britsch, M.; Britton, T.; Brook, N. H.; Brown, H.; Buchler-Germann, A.; Burducea, I.; Bursche, A.; Buytaert, J.; Cadeddu, S.; Callot, O.; Calvi, M.; Gomez, M. C.; Camboni, A.; Campana, P.; Carbone, A.; Carboni, G.; Cardinale, R.; Cardini, A.; Carranza-Mejia, H.; Carson, L.; Akiba, K. C.; Casse, G.; Cattaneo, M.; Cauet, C.; Charles, M.; Charpentier, P.; Chen, P.; Chiapolini, N.; Chrzaszcz, M.; Ciba, K.; Vidal, X. C.; Ciezarek, G.; Clarke, P. E. L.; Clemencic, M.; Cliff, H. V.; Closier, J.; Coca, C.; Coco, V.; Cogan, J.; Cogneras, E.; Collins, P.; Comerma-Montells, A.; Contu, A.; Cook, A.; Coombes, M.; Corti, G.; Couturier, B.; Cowan, G. A.; Craik, D.; Cunlie, S.; Currie, R.; D'Ambrosio, C.; David, P.; David, P. N. Y.; De Bonis, I.; De Bruyn, K.; De Capua, S.; De Cian, M.; De Miranda, J. M.; De Paula, L.; De Silva, W.; De Simone, P.; Decamp, D.; Deckenhoff, M.; Degaudenzi, H.; Del Buono, L.; Deplano, C.; Derkach, D.; Deschamps, O.; Dettori, F.; Canto, A. D.; Dickens, J.; Dijkstra, H.; Batista, P. D.; Dogaru, M.; Bonal, F. D.; Donleavy, S.; Dordei, F.; Suarez, A. D.; Dossett, D.; Dovbnya, A.; Dupertuis, F.; Dzhelyadin, R.; Dziurda, A.; Dzyuba, A.; Easo, S.; Egede, U.; Egorychev, V.; Eidelman, S.; Van Eijk, D.; Eisenhardt, S.; Eitschberger, U.; Ekelhof, R.; Eklund, L.; Rifai, I. E.; Elsasser, C.; Elsby, D.; Falabella, A.; Farber, C.; Fardell, G.; Farinelli, C.; Farry, S.; Fave, V.; Ferguson, D.; Albor, V. F.; Rodrigues, F. F.; Ferro-Luzzi, M.; Filippov, S.; Fitzpatrick, C.; Fontana, M.; Fontanelli, F.; Forty, R.; Francisco, O.; Frank, M.; Frei, C.; Frosini, M.; Furcas, S.; Furfaro, E.; Torreira, A. G.; Galli, D.; Gandelman, M.; Gandini, P.; Gao, Y.; Garofoli, J.; Garosi, P.; Tico, J. G.; Garrido, L.; Gaspar, C.; Gauld, R.; Gersabeck, E.; Gersabeck, M.; Gershon, T.; Ghez, P.; Gibson, V.; Gligorov, V. V.; Gobel, C.; Golubkov, D.; Golutvin, A.; Gomes, A.; Gordon, H.; Gandara, M. G.; Diaz, R. G.; Cardoso, L. A. G.; Grauges, E.; Graziani, G.; Grecu, A.; Greening, E.; Gregson, S.; Grunberg, O.; Gui, B.; Gushchin, E.; Guz, Y.; Gys, T.; Hadjivasiliou, C.; Haefeli, G.; Haen, C.; Haines, S. C.; Hall, S.; Hampson, T.; Hansmann-Menzemer, S.; Harnew, N.; Harnew, S. T.; Harrison, J.; Harrison, P. F.; Hartmann, T.; He, J.; Heijne, V.; Hennessy, K.; Henrard, P.; Morata, J. A. H.; Van Herwijnen, E.; Hicks, E.; Hill, D.; Hoballah, M.; Hombach, C.; Hopchev, P.; Hulsbergen, W.; Hunt, P.; Huse, T.; Hussain, N.; Hutchcroft, D.; Hynds, D.; Iakovenko, V.; Ilten, P.; Imong, J.; Jacobsson, R.; Jaeger, A.; Jans, E.; Jansen, F.; Jaton, P.; Jing, F.; John, M.; Johnson, D.; Jones, C. R.; Jost, B.; Kaballo, M.; Kandybei, S.; Karacson, M.; Karbach, T. M.; Kenyon, I. R.; Kerzel, U.; Ketel, T.; Keune, A.; Khanji, B.; Kochebina, O.; Komarov, I.; Koopman, R. F.; Koppenburg, P.; Korolev, M.; Kozlinskiy, A.; Kravchuk, L.; Kreplin, K.; Kreps, M.; Krocker, G.; Krokovny, P.; Kruse, F.; Kucharczyk, M.; Kudryavtsev, V.; Kvaratskheliya, T.; La Thi, V. N.; Lacarrere, D.; Laerty, G.; Lai, A.; Lambert, D.; Lambert, R. W.; Lanciotti, E.; Lanfranchi, G.; Langenbruch, C.; Latham, T.; Lazzeroni, C.; Gac, R. L.; Van Leerdam, J.; Lees, J. P.; Lefevre, R.; Leat, A.; Lefrancois, J.; Leroy, O.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Liles, M.; Lindner, R.; Linn, C.; Liu, B.; Liu, G.; Von Loeben, J.; Lopes, J. H.; Asamar, E. L.; Lopez-March, N.; Lu, H.; Luisier, J.; Luo, H.; Mac Raighne, A.; Machefert, F.; Machikhiliyan, I. V.; Maciuc, F.; Maev, O.; Malde, S.; Manca, G.; Mancinelli, G.; Mangiafave, N.; Marconi, U.; Marki, R.; Marks, J.; Martellotti, G.; Martens, A.; Martin, L.; Sanchez, A. M.; Martinelli, M.; Santos, D. M.; Tostes, D. M.; Massaerri, A.; Matev, R.; Mathe, Z.; Matteuzzi, C.; Matveev, M.; Maurice, E.; Mazurov, A.; Mccarthy, J.; Mcnulty, R.; Meadows, B.; Meier, F.; Meissner, M.; Merk, M.; Milanes, D. A.; Minard, M. N.; Rodriguez, J. M.; Monteil, S.; Moran, D.; Morawski, P.; Mountain, R.; Mous, I.; Muheim, F.; Muller, K.; Muresan, R.; Muryn, B.; Muster, B.; Naik, P.; Nakada, T.; Nandakumar, R.; Nasteva, I.; Needham, M.; Neufeld, N.; Nguyen, A. D.; Nguyen, T. D.; Nguyen-Mau, C.; Nicol, M.; Niess, V.; Niet, R.; Nikitin, N.; Nikodem, T.; Nisar, S.; Nomerotski, A.; Novoselov, A.; Oblakowska-Mucha, A.; Obraztsov, V.; Oggero, S.; Ogilvy, S.; Okhrimenko, O.; Oldeman, R.; Orlandea, M.; Goicochea, J. M. O.; Owen, P.; Pal, B. K.; Palano, A.; Palutan, M.; Panman, J.; Papanestis, A.; Pappagallo, M.; Parkes, C.; Parkinson, C. J.; Passaleva, G.; Patel, G. D.; Patel, M.; Patrick, G. N.; Patrignani, C.; Pavel-Nicorescu, C.; Alvarez, A. P.; Pellegrino, A.; Penso, G.; Altarelli, M. P.; Perazzini, S.; Perego, D. L.; Trigo, E. P.; Yzquierdo, A. P.; Perret, P.; Perrin-Terrin, M.; Pessina, G.; Petridis, K.; Petrolini, A.; Phan, A.; Olloqui, E. P.; Pietrzyk, B.; Pilar, T.; Pinci, D.; Playfer, S.; Casasus, M. P.; Polci, F.; Polok, G.; Poluektov, A.; Polycarpo, E.; Popov, D.; Popovici, B.; Potterat, C.; Powell, A.; Prisciandaro, J.; Pugatch, V.; Navarro, A. P.; Qian, W.; Rademacker, J. H.; Rakotomiaramanana, B.; Rangel, M. S.; Raniuk, I.; Rauschmayr, N.; Raven, G.; Redford, S.; Reid, M. M.; Dos Reis, A. C.; Ricciardi, S.; Richards, A.; Rinnert, K.; Molina, V. R.; Romero, D. A. R.; Robbe, P.; Rodrigues, E.; Perez, P. R.; Rogers, G. J.; Roiser, S.; Romanovsky, V.; Vidal, A. R.; Rouvinet, J.; Ruf, T.; Ruiz, H.; Sabatino, G.; Silva, J. J. S.; Sagidova, N.; Sail, P.; Saitta, B.; Salzmann, C.; Sedes, B. S.; Sannino, M.; Santacesaria, R.; Rios, C. S.; Santovetti, E.; Sapunov, M.; Sarti, A.; Satriano, C.; Satta, A.; Savrie, M.; Savrina, D.; Schaack, P.; Schiller, M.; Schindler, H.; Schleich, S.; Schlupp, M.; Schmelling, M.; Schmidt, B.; Schneider, O.; Schopper, A.; Schune, M. H.; Schwemmer, R.; Sciascia, B.; Sciubba, A.; Seco, M.; Semennikov, A.; Senderowska, K.; Sepp, I.; Serra, N.; Serrano, J.; Seyfert, P.; Shapkin, M.; Shapoval, I.; Shatalov, P.; Shcheglov, Y.; Shears, T.; Shekhtman, L.; Shevchenko, O.; Shevchenko, V.; Shires, A.; Coutinho, R. S.; Skwarnicki, T.; Smith, N. A.; Smith, E.; Smith, M.; Sobczak, K.; Sokoloff, M. D.; Soler, F. J. P.; Soomro, F.; Souza, D.; De Paula, B. S.; Spaan, B.; Sparkes, A.; Spradlin, P.; Stagni, F.; Stahl, S.; Steinkamp, O.; Stoica, S.; Stone, S.; Storaci, B.; Straticiuc, M.; Straumann, U.; Subbiah, V. K.; Swientek, S.; Syropoulos, V.; Szczekowski, M.; Szczypka, P.; Szumlak, T.; T'Jampens, S.; Teklishyn, M.; Teodorescu, E.; Teubert, F.; Thomas, C.; Thomas, E.; Van Tilburg, J.; Tisserand, V.; Tobin, M.; Tolk, S.; Tonelli, D.; Topp-Joergensen, S.; Torr, N.; Tourneer, E.; Tourneur, S.; Tran, M. T.; Tresch, M.; Tsaregorodtsev, A.; Tsopelas, P.; Tuning, N.; Garcia, M. U.; Ukleja, A.; Urner, D.; Uwer, U.; Vagnoni, V.; Valenti, G.; Gomez, R. V.; Regueiro, P. V.; Vecchi, S.; Velthuis, J. J.; Veltri, M.; Veneziano, G.; Vesterinen, M.; Viaud, B.; Vieira, D.; Vilasis-Cardona, X.; Vollhardt, A.; Volyanskyy, D.; Voong, D.; Vorobyev, A.; Vorobyev, V.; Voss, C.; Voss, H.; Waldi, R.; Wallace, R.; Wandernoth, S.; Wang, J.; Ward, D. R.; Watson, N. K.; Webber, A. D.; Websdale, D.; Whitehead, M.; Wicht, J.; Wiechczynski, J.; Wiedner, D.; Wiggers, L.; Wilkinson, G.; Williams, M. P.; Williams, M.; Wilson, F. F.; Wishahi, J.; Witek, M.; Witzeling, W.; Wotton, S. A.; Wright, S.; Wu, S.; Wyllie, K.; Xie, Y.; Xing, F.; Xing, Z.; Yang, Z.; Young, R.; Yuan, X.; Yushchenko, O.; Zangoli, M.; Zavertyaev, M.; Zhang, F.; Zhang, L.; Zhang, W. C.; Zhang, Y.; Zhelezov, A.; Zhokhov, A.; Zhong, L.; Zvyagin, A.. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - 2013:3(2013), pp. N/A-N/A. [10.1007/JHEP03(2013)067]
Measurement of CP observables in B0 → DK*0 with D → K+K−
Aaij R.;Beteta C. A.;Adametz A.;Adeva B.;Adinolfi M.;Adrover C.;Affolder A.;Ajaltouni Z.;Albrecht J.;Alessio F.;Alexander M.;Ali S.;Alkhazov G.;Cartelle P. A.;Alves A. A.;Amato S.;Amhis Y.;Anderlini L.;Anderson J.;Andreassen R.;Appleby R. B.;Gutierrez O. A.;Archilli F.;Artamonov A.;Artuso M.;Aslanides E.;Auriemma G.;Bachmann S.;Back J. J.;Baesso C.;Balagura V.;Baldini W.;Barlow R. J.;Barschel C.;Barsuk S.;Barter W.;Bates A.;Bauer T.;Bay A.;Beddow J.;Bediaga I.;Belogurov S.;Belous K.;Belyaev I.;Ben-Haim E.;Benayoun M.;Bencivenni G.;Benson S.;Benton J.;Berezhnoy A.;Bernet R.;Bettler M. O.;Van Beuzekom M.;Bien A.;Bifani S.;Bird T.;Bizzeti A.;Bjrnstad P. M.;Blake T.;Blanc F.;Blanks C.;Blouw J.;Blusk S.;Bobrov A.;Bocci V.;Bondar A.;Bondar N.;Bonivento W.;Borghi S.;Borgia A.;Bowcock T. J. V.;Bowen E.;Bozzi C.;Brambach T.;Van Den Brand J.;Bressieux J.;Brett D.;Britsch M.;Britton T.;Brook N. H.;Brown H.;Buchler-Germann A.;Burducea I.;Bursche A.;Buytaert J.;Cadeddu S.;Callot O.;Calvi M.;Gomez M. C.;Camboni A.;Campana P.;Carbone A.;Carboni G.;Cardinale R.;Cardini A.;Carranza-Mejia H.;Carson L.;Akiba K. C.;Casse G.;Cattaneo M.;Cauet C.;Charles M.;Charpentier P.;Chen P.;Chiapolini N.;Chrzaszcz M.;Ciba K.;Vidal X. C.;Ciezarek G.;Clarke P. E. L.;Clemencic M.;Cliff H. V.;Closier J.;Coca C.;Coco V.;Cogan J.;Cogneras E.;Collins P.;Comerma-Montells A.;Contu A.;Cook A.;Coombes M.;Corti G.;Couturier B.;Cowan G. A.;Craik D.;Cunlie S.;Currie R.;D'ambrosio C.;David P.;David P. N. Y.;De Bonis I.;De Bruyn K.;De Capua S.;De Cian M.;De Miranda J. M.;De Paula L.;De Silva W.;De Simone P.;Decamp D.;Deckenhoff M.;Degaudenzi H.;Del Buono L.;Deplano C.;Derkach D.;Deschamps O.;Dettori F.;Canto A. D.;Dickens J.;Dijkstra H.;Batista P. D.;Dogaru M.;Bonal F. D.;Donleavy S.;Dordei F.;Suarez A. D.;Dossett D.;Dovbnya A.;Dupertuis F.;Dzhelyadin R.;Dziurda A.;Dzyuba A.;Easo S.;Egede U.;Egorychev V.;Eidelman S.;Van Eijk D.;Eisenhardt S.;Eitschberger U.;Ekelhof R.;Eklund L.;Rifai I. E.;Elsasser C.;Elsby D.;Falabella A.;Farber C.;Fardell G.;Farinelli C.;Farry S.;Fave V.;Ferguson D.;Albor V. F.;Rodrigues F. F.;Ferro-Luzzi M.;Filippov S.;Fitzpatrick C.;Fontana M.;Fontanelli F.;Forty R.;Francisco O.;Frank M.;Frei C.;Frosini M.;Furcas S.;Furfaro E.;Torreira A. G.;Galli D.;Gandelman M.;Gandini P.;Gao Y.;Garofoli J.;Garosi P.;Tico J. G.;Garrido L.;Gaspar C.;Gauld R.;Gersabeck E.;Gersabeck M.;Gershon T.;Ghez P.;Gibson V.;Gligorov V. V.;Gobel C.;Golubkov D.;Golutvin A.;Gomes A.;Gordon H.;Gandara M. G.;Diaz R. G.;Cardoso L. A. G.;Grauges E.;Graziani G.;Grecu A.;Greening E.;Gregson S.;Grunberg O.;Gui B.;Gushchin E.;Guz Y.;Gys T.;Hadjivasiliou C.;Haefeli G.;Haen C.;Haines S. C.;Hall S.;Hampson T.;Hansmann-Menzemer S.;Harnew N.;Harnew S. T.;Harrison J.;Harrison P. F.;Hartmann T.;He J.;Heijne V.;Hennessy K.;Henrard P.;Morata J. A. H.;Van Herwijnen E.;Hicks E.;Hill D.;Hoballah M.;Hombach C.;Hopchev P.;Hulsbergen W.;Hunt P.;Huse T.;Hussain N.;Hutchcroft D.;Hynds D.;Iakovenko V.;Ilten P.;Imong J.;Jacobsson R.;Jaeger A.;Jans E.;Jansen F.;Jaton P.;Jing F.;John M.;Johnson D.;Jones C. R.;Jost B.;Kaballo M.;Kandybei S.;Karacson M.;Karbach T. M.;Kenyon I. R.;Kerzel U.;Ketel T.;Keune A.;Khanji B.;Kochebina O.;Komarov I.;Koopman R. F.;Koppenburg P.;Korolev M.;Kozlinskiy A.;Kravchuk L.;Kreplin K.;Kreps M.;Krocker G.;Krokovny P.;Kruse F.;Kucharczyk M.;Kudryavtsev V.;Kvaratskheliya T.;La Thi V. N.;Lacarrere D.;Laerty G.;Lai A.;Lambert D.;Lambert R. W.;Lanciotti E.;Lanfranchi G.;Langenbruch C.;Latham T.;Lazzeroni C.;Gac R. L.;Van Leerdam J.;Lees J. P.;Lefevre R.;Leat A.;Lefrancois J.;Leroy O.;Li Y.;Li Gioi L.;Liles M.;Lindner R.;Linn C.;Liu B.;Liu G.;Von Loeben J.;Lopes J. H.;Asamar E. L.;Lopez-March N.;Lu H.;Luisier J.;Luo H.;Mac Raighne A.;Machefert F.;Machikhiliyan I. V.;Maciuc F.;Maev O.;Malde S.;Manca G.;Mancinelli G.;Mangiafave N.;Marconi U.;Marki R.;Marks J.;Martellotti G.;Martens A.;Martin L.;Sanchez A. M.;Martinelli M.;Santos D. M.;Tostes D. M.;Massaerri A.;Matev R.;Mathe Z.;Matteuzzi C.;Matveev M.;Maurice E.;Mazurov A.;Mccarthy J.;Mcnulty R.;Meadows B.;Meier F.;Meissner M.;Merk M.;Milanes D. A.;Minard M. N.;Rodriguez J. M.;Monteil S.;Moran D.;Morawski P.;Mountain R.;Mous I.;Muheim F.;Muller K.;Muresan R.;Muryn B.;Muster B.;Naik P.;Nakada T.;Nandakumar R.;Nasteva I.;Needham M.;Neufeld N.;Nguyen A. D.;Nguyen T. D.;Nguyen-Mau C.;Nicol M.;Niess V.;Niet R.;Nikitin N.;Nikodem T.;Nisar S.;Nomerotski A.;Novoselov A.;Oblakowska-Mucha A.;Obraztsov V.;Oggero S.;Ogilvy S.;Okhrimenko O.;Oldeman R.;Orlandea M.;Goicochea J. M. O.;Owen P.;Pal B. K.;Palano A.;Palutan M.;Panman J.;Papanestis A.;Pappagallo M.;Parkes C.;Parkinson C. J.;Passaleva G.;Patel G. D.;Patel M.;Patrick G. N.;Patrignani C.;Pavel-Nicorescu C.;Alvarez A. P.;Pellegrino A.;Penso G.;Altarelli M. P.;Perazzini S.;Perego D. L.;Trigo E. P.;Yzquierdo A. P.;Perret P.;Perrin-Terrin M.;Pessina G.;Petridis K.;Petrolini A.;Phan A.;Olloqui E. P.;Pietrzyk B.;Pilar T.;Pinci D.;Playfer S.;Casasus M. P.;Polci F.;Polok G.;Poluektov A.;Polycarpo E.;Popov D.;Popovici B.;Potterat C.;Powell A.;Prisciandaro J.;Pugatch V.;Navarro A. P.;Qian W.;Rademacker J. H.;Rakotomiaramanana B.;Rangel M. S.;Raniuk I.;Rauschmayr N.;Raven G.;Redford S.;Reid M. M.;Dos Reis A. C.;Ricciardi S.;Richards A.;Rinnert K.;Molina V. R.;Romero D. A. R.;Robbe P.;Rodrigues E.;Perez P. R.;Rogers G. J.;Roiser S.;Romanovsky V.;Vidal A. R.;Rouvinet J.;Ruf T.;Ruiz H.;Sabatino G.;Silva J. J. S.;Sagidova N.;Sail P.;Saitta B.;Salzmann C.;Sedes B. S.;Sannino M.;Santacesaria R.;Rios C. S.;Santovetti E.;Sapunov M.;Sarti A.;Satriano C.;Satta A.;Savrie M.;Savrina D.;Schaack P.;Schiller M.;Schindler H.;Schleich S.;Schlupp M.;Schmelling M.;Schmidt B.;Schneider O.;Schopper A.;Schune M. H.;Schwemmer R.;Sciascia B.;Sciubba A.;Seco M.;Semennikov A.;Senderowska K.;Sepp I.;Serra N.;Serrano J.;Seyfert P.;Shapkin M.;Shapoval I.;Shatalov P.;Shcheglov Y.;Shears T.;Shekhtman L.;Shevchenko O.;Shevchenko V.;Shires A.;Coutinho R. S.;Skwarnicki T.;Smith N. A.;Smith E.;Smith M.;Sobczak K.;Sokoloff M. D.;Soler F. J. P.;Soomro F.;Souza D.;De Paula B. S.;Spaan B.;Sparkes A.;Spradlin P.;Stagni F.;Stahl S.;Steinkamp O.;Stoica S.;Stone S.;Storaci B.;Straticiuc M.;Straumann U.;Subbiah V. K.;Swientek S.;Syropoulos V.;Szczekowski M.;Szczypka P.;Szumlak T.;T'jampens S.;Teklishyn M.;Teodorescu E.;Teubert F.;Thomas C.;Thomas E.;Van Tilburg J.;Tisserand V.;Tobin M.;Tolk S.;Tonelli D.;Topp-Joergensen S.;Torr N.;Tourneer E.;Tourneur S.;Tran M. T.;Tresch M.;Tsaregorodtsev A.;Tsopelas P.;Tuning N.;Garcia M. U.;Ukleja A.;Urner D.;Uwer U.;Vagnoni V.;Valenti G.;Gomez R. V.;Regueiro P. V.;Vecchi S.;Velthuis J. J.;Veltri M.;Veneziano G.;Vesterinen M.;Viaud B.;Vieira D.;Vilasis-Cardona X.;Vollhardt A.;Volyanskyy D.;Voong D.;Vorobyev A.;Vorobyev V.;Voss C.;Voss H.;Waldi R.;Wallace R.;Wandernoth S.;Wang J.;Ward D. R.;Watson N. K.;Webber A. D.;Websdale D.;Whitehead M.;Wicht J.;Wiechczynski J.;Wiedner D.;Wiggers L.;Wilkinson G.;Williams M. P.;Williams M.;Wilson F. F.;Wishahi J.;Witek M.;Witzeling W.;Wotton S. A.;Wright S.;Wu S.;Wyllie K.;Xie Y.;Xing F.;Xing Z.;Yang Z.;Young R.;Yuan X.;Yushchenko O.;Zangoli M.;Zavertyaev M.;Zhang F.;Zhang L.;Zhang W. C.;Zhang Y.;Zhelezov A.;Zhokhov A.;Zhong L.;Zvyagin A.
2013
Abstract
The decay B0 → DK*0 and the charge conjugate mode are studied using 1.0 fb−1 of pp collision data collected by the LHCb experiment at √s = 7 TeV in 2011. The CP asymmetry between the B0 → DK*0 and the B0 → DK*0 decay rates, with the neutral D meson in the CP-even final state K+K−‚ is found to be AdKK = −0.45 ± 0.23 ± 0.02, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic. In addition, favoured B0 → DK*0 decays are reconstructed with the D meson in the non-CP eigenstate K+π−. The ratio of the B-flavour averaged decay rates in D decays to CP and non-CP eigenstates is measured to be RdKK = 1.36 +0.37−0.32 ± 0.07, where the ratio of the branching fractions of D0 → K−π+ to D0 → K+K− decays is included as multiplicative factor. The CP asymmetries measured with two control channels, the favoured B0 → DK*0 decay with D → K+π− and the B0s → DK*0 decay with D → K+K−, are also reported.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1209159
Citazioni
ND
6
7
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. L’Università di Modena e Reggio Emilia non si assume alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione.