Landau-Zener Transition in a Continuously Measured Single-Molecule Spin Transistor

Troiani, F.; Godfrin, C.; Thiele, S.; Balestro, F.; Wernsdorfer, W.; Klyatskaya, S.; Ruben, M.; Affronte, M.

doi:10.1103/PhysRevLett.118.257701

We monitor the Landau-Zener dynamics of a single-ion magnet inserted into a spin-transistor geometry. For increasing field-sweep rates, the spin reversal probability shows increasing deviations from that of a closed system. In the low-conductance limit, such deviations are shown to result from a dephasing process. In particular, the observed behaviors are successfully simulated by means of an adiabatic master equation, with time averaged dephasing (Lindblad) operators. The time average is tentatively interpreted in terms of the finite time resolution of the continuous measurement.

Landau-Zener Transition in a Continuously Measured Single-Molecule Spin Transistor / Troiani, F.; Godfrin, C.; Thiele, S.; Balestro, F.; Wernsdorfer, W.; Klyatskaya, S.; Ruben, M.; Affronte, M.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 118:25(2017), pp. 25771-25775.

Data di pubblicazione:	2017
Data di prima pubblicazione:	23-giu-2017
Titolo:	Landau-Zener Transition in a Continuously Measured Single-Molecule Spin Transistor
Autore/i:	Troiani, F.; Godfrin, C.; Thiele, S.; Balestro, F.; Wernsdorfer, W.; Klyatskaya, S.; Ruben, M.; Affronte, M.
Autore/i UNIMORE:	Troiani, F. Godfrin, C. Thiele, S. Balestro, F. Wernsdorfer, W. Klyatskaya, S. Ruben, M. AFFRONTE, Marco mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Digital Object Identifier (DOI):	http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.118.257701
Rivista:	PHYSICAL REVIEW LETTERS
Volume:	118
Fascicolo:	25
Pagina iniziale:	25771
Pagina finale:	25775
Codice identificativo ISI:	WOS:000404004200013
Codice identificativo Scopus:	2-s2.0-85021350209
Codice identificativo Pubmed:	28696767
Citazione:	Landau-Zener Transition in a Continuously Measured Single-Molecule Spin Transistor / Troiani, F.; Godfrin, C.; Thiele, S.; Balestro, F.; Wernsdorfer, W.; Klyatskaya, S.; Ruben, M.; Affronte, M.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 118:25(2017), pp. 25771-25775.
Tipologia	Articolo su rivista

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http://hdl.handle.net/11380/1152446

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