GOSWAMI, Rupam
GOSWAMI, Rupam
Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari"
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Single Trap and Low Frequency 1/f Noise Modeling in MOSFETs with Dirac Materials or 2D Semiconductor Channel | 1-gen-2026 | Goswami, R.; Palestri, P.; Selmi, L. |