CAPPELLINI, GIACOMO
CAPPELLINI, GIACOMO
Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari"
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Impact of OFF-State Stress on Dynamic RON of On-Wafer 100 V p-GaN HEMTs, Studied by Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Operation | 1-gen-2025 | Modica, L.; Zagni, N.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Verzellesi, G.; Chini, A. |