GAMBETTA, Francesca
GAMBETTA, Francesca
Dipartimento di Ingegneria "Enzo Ferrari"
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Evolution of vacancy-like defects in He-implanted (100) Si studied by thermal desorption spectrometry
2000 Corni, Federico; G., Calzolari; Gambetta, Francesca; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Zapparoli, Mauro
Large angle convergent beam electron diffraction strain measurements in high dose helium implanted silicon
2000 Gambetta, Francesca; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Corni, Federico
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Evolution of vacancy-like defects in He-implanted (100) Si studied by thermal desorption spectrometry | 1-gen-2000 | Corni, Federico; G., Calzolari; Gambetta, Francesca; Nobili, Carlo Emanuele; Tonini, Rita; Zapparoli, Mauro | |
Large angle convergent beam electron diffraction strain measurements in high dose helium implanted silicon | 1-gen-2000 | Gambetta, Francesca; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Corni, Federico |