TEDIOSI, Erika
TEDIOSI, Erika
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Surface-related kink effect in AlGaAs/GaAs power HFETs
2001 Tediosi, Erika; Verzellesi, Giovanni; Canali, Claudio; G., Sozzi; R., Menozzi; C., Lanzieri
Trap-related effects in 6H-SiC buried-gate JFETs
2001 G., Meneghesso; Chini, Alessandro; E., Zanoni; Verzellesi, Giovanni; Tediosi, Erika; Canali, Claudio; A., Cavallini; A., Castaldini
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Surface-related kink effect in AlGaAs/GaAs power HFETs | 1-gen-2001 | Tediosi, Erika; Verzellesi, Giovanni; Canali, Claudio; G., Sozzi; R., Menozzi; C., Lanzieri | |
| Trap-related effects in 6H-SiC buried-gate JFETs | 1-gen-2001 | G., Meneghesso; Chini, Alessandro; E., Zanoni; Verzellesi, Giovanni; Tediosi, Erika; Canali, Claudio; A., Cavallini; A., Castaldini |