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Physical and circuit modeling of HfO2 based ferroelectric memories and devices
2018 Pesic, M.; Di Lecce, V.; Hoffmann, M.; Mulaosmanovic, H.; Max, B.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Larcher, L.; Mikolajick, T.
Built-In Bias Generation in Anti-Ferroelectric Stacks: Methods and Device Applications
2018 Pesic, M.; Li, T.; Di Lecce, V.; Hoffmann, M.; Materano, M.; Richter, C.; Max, B.; Slesazeck, S.; Schroeder, U.; Larcher, L.; Mikolajick, T.
Multiscale Modeling of Ferroelectric Memories: Insights into Performances and Reliability
2018 Pesiu, M.; Di Lecce, V.; Pramanik, D.; Larcher, L.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Physical and circuit modeling of HfO2 based ferroelectric memories and devices | 1-gen-2018 | Pesic, M.; Di Lecce, V.; Hoffmann, M.; Mulaosmanovic, H.; Max, B.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Larcher, L.; Mikolajick, T. | |
Built-In Bias Generation in Anti-Ferroelectric Stacks: Methods and Device Applications | 1-gen-2018 | Pesic, M.; Li, T.; Di Lecce, V.; Hoffmann, M.; Materano, M.; Richter, C.; Max, B.; Slesazeck, S.; Schroeder, U.; Larcher, L.; Mikolajick, T. | |
Multiscale Modeling of Ferroelectric Memories: Insights into Performances and Reliability | 1-gen-2018 | Pesiu, M.; Di Lecce, V.; Pramanik, D.; Larcher, L. |
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