Si passano in rassegna le problematiche legate al collaudo dei circuiti integrati a grande densità di integrazione, con particolare attenzione all'inadeguatezza dei modelli di guasto più diffusi, ai problemi della generazione delle sequenze di collaudo e della diagnostica.
PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI / Fantini, Fausto; C., Morandi; A., Senin. - In: L'ELETTROTECNICA. - ISSN 0013-6131. - STAMPA. - LXXI:(1984), pp. 391-403.
PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI
FANTINI, Fausto;
1984
Abstract
Si passano in rassegna le problematiche legate al collaudo dei circuiti integrati a grande densità di integrazione, con particolare attenzione all'inadeguatezza dei modelli di guasto più diffusi, ai problemi della generazione delle sequenze di collaudo e della diagnostica.
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