Non linear modeling of state-of-the-art device technologiesboth bipolar and III-VFET-based.

Empirical Nonlinear Noise Models of Field Effect Devices for Microwave Circuit Large-Signal Noise Analysis / Florian, C; TRAVERSO P., A; Borgarino, Mattia; Filicori, F.. - STAMPA. - (2007), pp. 1-44. (Intervento presentato al convegno Microwave Theory and Technique Symposium tenutosi a Honolulu, USA nel 3-8 Giugno 2007 - Honolulu (HI)).

Empirical Nonlinear Noise Models of Field Effect Devices for Microwave Circuit Large-Signal Noise Analysis

BORGARINO, Mattia;
2007

Abstract

Non linear modeling of state-of-the-art device technologiesboth bipolar and III-VFET-based.
2007
Microwave Theory and Technique Symposium
Honolulu, USA
3-8 Giugno 2007 - Honolulu (HI)
1
44
Florian, C; TRAVERSO P., A; Borgarino, Mattia; Filicori, F.
Empirical Nonlinear Noise Models of Field Effect Devices for Microwave Circuit Large-Signal Noise Analysis / Florian, C; TRAVERSO P., A; Borgarino, Mattia; Filicori, F.. - STAMPA. - (2007), pp. 1-44. (Intervento presentato al convegno Microwave Theory and Technique Symposium tenutosi a Honolulu, USA nel 3-8 Giugno 2007 - Honolulu (HI)).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/587287
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact