The physics of latch-up. Electrical characterization. Analytical techniques. Layout and technological improvements for avoiding latch-up.

Latch-up in CMOS Integrated Circuits / Fantini, Fausto; M., Muschitiello; E., Zanoni. - STAMPA. - (1989), pp. 151-194.

Latch-up in CMOS Integrated Circuits

FANTINI, Fausto;
1989

Abstract

The physics of latch-up. Electrical characterization. Analytical techniques. Layout and technological improvements for avoiding latch-up.
1989
Microlelectronic reliability, volume II, Integrity Assessment and Assurance
0890063508
9780890063507
Artech House, Inc.
STATI UNITI D'AMERICA
Latch-up in CMOS Integrated Circuits / Fantini, Fausto; M., Muschitiello; E., Zanoni. - STAMPA. - (1989), pp. 151-194.
Fantini, Fausto; M., Muschitiello; E., Zanoni
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/461529
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact