Welcome letter / Selmi, L.; Klootwijk, J.; Meneghesso, G.; Toffoli, A.; Driussi, F.. - (2014), pp. i-xii. (Intervento presentato al convegno 27th International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2014 tenutosi a Udine, ita nel 2014) [10.1109/ICMTS.2014.6841457].
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