Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires / Tikhonov, E. S; Shovkun, D. V; Ercolani, Daniele; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Sorba, Lucia; Roddaro, Stefano; Khrapai, V. S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 31:10(2016), p. 104001. [10.1088/0268-1242/31/10/104001]

Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires

ERCOLANI, Daniele;ROSSELLA, FRANCESCO;SORBA, LUCIA;
2016
2016
31
10
104001
WOS:000384101400001
2-s2.0-84989818949
Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires / Tikhonov, E. S; Shovkun, D. V; Ercolani, Daniele; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Sorba, Lucia; Roddaro, Stefano; Khrapai, V. S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 31:10(2016), p. 104001. [10.1088/0268-1242/31/10/104001]
Tikhonov, E. S; Shovkun, D. V; Ercolani, Daniele; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Sorba, Lucia; Roddaro, Stefano; Khrapai, V. S.
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