Reliability-Aware Design Strategies for Stateful Logic-in-Memory Architectures / Zanotti, Tommaso; Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY. - ISSN 1530-4388. - (2020), pp. 1-1. [10.1109/TDMR.2020.2981205]
Reliability-Aware Design Strategies for Stateful Logic-in-Memory Architectures
Zanotti, Tommaso;Puglisi, Francesco Maria;Pavan, Paolo
2020
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