Questo articolo descrive i principali fenomeni fisici in grado di degradare o danneggiare in modo permanente i circuiti integrati, limitandone l'affidabilità. In particolare verranno trattati quei problemi delle tecnologie MOS e BiCMOS che per il loro carattere fondamentale rimarranno di attualità anche nelle future versioni di queste tecnologie. Non verranno trattati, invece, i fenomeni responsabili di errori transitori (soft-errors), quali l'interazione tra dispositivi e radiazione ionizzante nella circuiteria e nelle celle delle memorie RAM dinamiche.

Problematiche di affidabilità / Selmi, Luca. - (1992), pp. 34-53. (Intervento presentato al convegno Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori" tenutosi a Valenzano, Bari nel 30 giugno - 3 luglio 1992).

Problematiche di affidabilità

SELMI, Luca
1992

Abstract

Questo articolo descrive i principali fenomeni fisici in grado di degradare o danneggiare in modo permanente i circuiti integrati, limitandone l'affidabilità. In particolare verranno trattati quei problemi delle tecnologie MOS e BiCMOS che per il loro carattere fondamentale rimarranno di attualità anche nelle future versioni di queste tecnologie. Non verranno trattati, invece, i fenomeni responsabili di errori transitori (soft-errors), quali l'interazione tra dispositivi e radiazione ionizzante nella circuiteria e nelle celle delle memorie RAM dinamiche.
1992
Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori"
Valenzano, Bari
30 giugno - 3 luglio 1992
34
53
Selmi, Luca
Problematiche di affidabilità / Selmi, Luca. - (1992), pp. 34-53. (Intervento presentato al convegno Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori" tenutosi a Valenzano, Bari nel 30 giugno - 3 luglio 1992).
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