A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49:(2002), pp. 1427-1427.

A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors

SELMI L;
2002-01-01
49
1427
1427
2-s2.0-0036685464
A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49:(2002), pp. 1427-1427.
Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.
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