A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49(2002), pp. 1427-1427.
Data di pubblicazione: | 2002 | |
Titolo: | A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors | |
Autore/i: | Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E. | |
Autore/i UNIMORE: | ||
Rivista: | ||
Volume: | 49 | |
Pagina iniziale: | 1427 | |
Pagina finale: | 1427 | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0036685464 | |
Citazione: | A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanism in Tunneling MOS Capacitors / Palestri, P.; Pavesi, M.; Rigolli, P.; Selmi, L; DALLA SERRA, A.; Abramo, A.; Widdershoven, F.; Sangiorgi, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 49(2002), pp. 1427-1427. | |
Tipologia | Articolo su rivista |
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