Silicon Luminescence Techniques for the Characterization of Hot-Carrier and Degradation Phenomena in MOS Devices / Selmi, Luca. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 28:1(1995), pp. 250-257.

Silicon Luminescence Techniques for the Characterization of Hot-Carrier and Degradation Phenomena in MOS Devices

SELMI, Luca
1995

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28
1
250
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Silicon Luminescence Techniques for the Characterization of Hot-Carrier and Degradation Phenomena in MOS Devices / Selmi, Luca. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 28:1(1995), pp. 250-257.
Selmi, Luca
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