A Comparative Study of Hot-Carrier Induced Light Emission and Degradation in Bulk and SOI MOSFETs / Selmi, Luca; Pavesi, M; WONG H., S; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico. - (1995), pp. 49-52. (Intervento presentato al convegno IEDM 1995) [10.1109/IEDM.1995.497180].
A Comparative Study of Hot-Carrier Induced Light Emission and Degradation in Bulk and SOI MOSFETs
SELMI, Luca;
1995
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