Bias and Temperature Dependence of Homogeneous Hot-Electron Injection from Silicon into Silicon Dioxide at Low Voltages / Fischer, B; Ghetti, A; Selmi, Luca; Bez, R; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 44:2(1997), pp. 288-290.
Bias and Temperature Dependence of Homogeneous Hot-Electron Injection from Silicon into Silicon Dioxide at Low Voltages
SELMI, Luca;
1997
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