Numerical Analysis of the Gate Voltage Dependence of the Series Resistances and Effective Channel Length in sub-micron GaAs MESFETs / Selmi, Luca; Menozzi, R; Gandolfi, P; Ricco, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 39:9(1992), pp. 2015-2020.

Numerical Analysis of the Gate Voltage Dependence of the Series Resistances and Effective Channel Length in sub-micron GaAs MESFETs

SELMI, Luca;
1992

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39
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2015
2020
Numerical Analysis of the Gate Voltage Dependence of the Series Resistances and Effective Channel Length in sub-micron GaAs MESFETs / Selmi, Luca; Menozzi, R; Gandolfi, P; Ricco, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 39:9(1992), pp. 2015-2020.
Selmi, Luca; Menozzi, R; Gandolfi, P; Ricco, B.
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