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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
250mV Input Boost Converter for Low Power Applications 1-gen-2010 Bertacchini, Alessandro; Scorcioni, Stefano; Cori, Marco Maria; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
A compact method for measuring parasitic resistances in bipolar transistors 1-gen-1993 Verzellesi, Giovanni; A., Chantre; R., Turetta; M., Cappellin; Pavan, Paolo; E., Zanoni
A Compact Model of Hafnium-Oxide-Based Resistive Random Access Memory 1-gen-2013 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Padovani, Andrea; Larcher, Luca
A complete study of SILC effects on E2PROM reliability 1-gen-2002 Larcher, L.; Bertulu, S.; Pavan, P.
A Complete Study of SILC Effects on EEPROM Reliability 1-gen-2002 Larcher, Luca; S., Bertulu; Pavan, Paolo
A consistent picture of cycling dispersion of resistive states in HfOx resistive random access memory 1-gen-2016 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo
A Micro Fuel Cell Power Supply Module for Low Power Portable Applications 1-gen-2010 Bertacchini, Alessandro; Scorcioni, Stefano; Cori, Marco Maria; Larcher, Luca; Pavan, Paolo; J. P., Esquivel; N., Torres Herrero; N., Sabaté; J., Santander
A microscopic physical description of RTN current fluctuations in HfOx RRAM 1-gen-2015 Puglisi, Francesco Maria; Pavan, Paolo; Vandelli, Luca; Padovani, Andrea; Bertocchi, Matteo; Larcher, Luca
A New Analytical Model of Channel Hot Electron (CHE) and CHannel Initiated Secondary ELectron (CHISEL) Current Suitable for Compact Modeling 1-gen-2002 Larcher, Luca; Pavan, Paolo
A New Compact Model of Floating Gate Non-Volatile Memory Cells 1-gen-2001 Larcher, Luca; Pavan, Paolo; F., Gattel; L., Albani; A., Marmiroli
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 142
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 142
Autore
  • LARCHER, Luca 69
  • PUGLISI, Francesco Maria 43
  • PADOVANI, ANDREA 36
  • BERTACCHINI, Alessandro 24
  • VERZELLESI, Giovanni 14
  • VANDELLI, LUCA 9
  • ZAGNI, NICOLO' 9
  • DONDI, Denis 8
  • SCORCIONI, Stefano 8
  • ZANOTTI, TOMMASO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 24
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 26
  • Editions Frontieres 7
  • IEEE Computer Society 7
  • IEEE - Institute of Electrical a... 3
  • IEEE - Institute of Electrical an... 3
  • ASM International 2
  • Computational Publications 2
  • NSTI 2
  • unknown 2
Rivista
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 2
  • ECS TRANSACTIONS 1
  • JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SO... 1
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 1
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
Serie
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 13
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 10
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • PROCEEDINGS OF THE ANNUAL CONFERE... 2
  • LECTURE NOTES OF THE INSTITUTE FO... 1
Keyword
  • RRAM 19
  • RTN 8
  • Compact Model 5
  • Defects 5
  • logistics 5
  • semiconductor device reliability 5
  • Electrical and Electronic Enginee... 4
  • Flash memories 4
  • Flash memory 4
  • HfO2 4
Lingua
  • eng 142
Accesso al fulltext
  • no fulltext 95
  • reserved 41
  • partially open 5
  • open 1