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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
1/f noise model based on trap-assisted tunneling for ultra-thin oxides MOSFETs 1-gen-2020 Caruso, Enrico; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Asanovski, Ruben
A better understanding of the low-field mobility in Graphene Nano-ribbons 1-gen-2009 Bresciani, M; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
A combined transport-injection model for hot-electron and hot-hole injection in the gate oxide of MOS structures 1-gen-1994 A., Ghetti; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico; Abramo, Antonio; F., Venturi
A Comparative Study of Hot-Carrier Induced Light Emission and Degradation in Bulk and SOI MOSFETs 1-gen-1995 Selmi, Luca; Pavesi, M; WONG H., S; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico
A comparison between semi-classical and quantum-mechanical escape-times for gate current calculations 1-gen-2000 DALLA SERRA, Alberto; Abramo, Antonio; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A Consistent Explanation of the Role of the SiN Composition on the Program/Retention Characteristics of MANOS and NROM like Memories 1-gen-2010 Vianello, Elisa; Nowak, E; Perniola, L; Driussi, Francesco; Blaise, P; Molas, G; DE SALVO, B; Selmi, Luca
A model for robust electrostatic design of nanowire FETs with arbitrary polygonal cross sections 1-gen-2009 DE MICHIELIS, Luca; Selmi, Luca; Ionescu, A. M.
A model of the interface charge and chemical noise due to surface reactions in Ion Sensitive FETs 1-gen-2019 Mele, Leandro Julian; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A Model to Understand Current Consumption, Maximum Operating Frequency And Scaling Trends Of MCML Frequency Dividers 1-gen-2005 Nonis, Roberto; Palumbo, Enzo; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
A Model to Understand Current Consumption, Maximum Operating Frequency And Scaling Trends Of MCML Frequency Dividers 1-gen-2006 Nonis, Roberto; Palumbo, Enzo; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca
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Tipologia
  • Atti di CONVEGNO 236
  • Atti di CONVEGNO::Relazione in At... 221
  • Atti di CONVEGNO::Abstract in Att... 13
  • Atti di CONVEGNO::Poster 2
Autore
  • PALESTRI, Pierpaolo 137
  • ABRAMO, ANTONIO 12
  • LEVA, FEDERICO 5
  • ASANOVSKI, RUBEN 4
  • BRANDALISE, DENIS 3
  • PAVAN, Paolo 3
  • GOLDONI, DANIELE 2
  • ROVATI, Luigi 2
  • BERTACCHINI, Alessandro 1
  • BIGLIARDI, Sara 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 17
  • 2010 - 2019 90
  • 2000 - 2009 91
  • 1990 - 1999 36
  • 1987 - 1989 2
Editore
  • IEEE 45
  • Institute of Electrical and Elect... 27
  • IEEE Computer Society 12
  • ELSEVIER SCIENCE BV 2
  • Society for Industrial and Applie... 2
  • 466469 1
  • DIEGM - Università degli Studi di... 1
  • Elsevier Ltd 1
  • Libreria Progetto 1
  • Univeristy of Wuppertal 1
Rivista
  • ECS TRANSACTIONS 3
  • MICROELECTRONIC ENGINEERING 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 1
  • SOLID-STATE ELECTRONICS 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 8
  • PROCEEDINGS OF IEEE SENSORS ... 5
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 5
  • INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMUL... 2
Keyword
  • III-V compounds 3
  • TCAD 3
  • CMOS 2
  • Impact Ionization 2
  • nanoribbon 2
  • potentiometric sensors 2
  • Simulation 2
  • 1/f 1
  • AC 1
  • admittance 1
Lingua
  • eng 190
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • reserved 136
  • no fulltext 94
  • open 5
  • embargoed 1