Sfoglia per Rivista  JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. PART 1, REGULAR PAPERS

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
The effect of biaxial stress on the solid phase epitaxial crystallization of GexSi((1-x)) films 1-gen-1998 Corni, Federico; Frabboni, Stefano; Tonini, Rita; Leone, D; de Boer, W; Gasparotto, A.
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