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Diffusion coeffcient of electrons in Si
1981 Brunetti, Rossella; Jacoboni, Carlo; Nava, Filippo; L., Reggiani; G., Bosman; R. J. J., Zijlstra
Diffusion coefficient of electrons in silicon
1981 Brunetti, R.; Jacoboni, C.; Nava, F.; Reggiani, L.; Bosman, G.; Zijlstra, R. J. J.
Electrical and structural characterization of Nb - Si thin film alloys
1986 Nava, Filippo; P., Psaras; H., Takai; K. N., Tu; Valeri, Sergio; Bisi, Olmes
Electrical characterization of alloy thin films of VSi2 and V3Si
1986 Nava, Filippo; Bisi, Olmes; P., Psaras; H., Takai; K. N., Tu
Electrical transport properties of V3Si, V5Si3 and VSi2 thin films
1986 Nava, Filippo; Bisi, Olmes; K. N., Tu
Electrical and optical properties of near-noble silicides
1987 Bisi, Olmes; M. G., Betti; Nava, Filippo; A., Borghesi; G., Guizzetti; L., Nosenzo; A., Piaggi
Far Infrared Vibrational Spectroscopy in CrSi_2
1990 A., Borghesi; A., Piaggi; Franchini, Anna; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio
Optical and vibrational properties of Cr and Fe disilicides
1990 A., Borghesi; A., Piaggi; A., Stella; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio
OPTICAL STUDY OF NIOBIUM DISILICIDE POLYCRYSTALLINE FILMS
1991 Amiotti, M; Borghesi, A; Marabelli, F; Guizzetti, G; Nava, Filippo
Far-infrared spectroscopy of thermally annealed tungsten silicide films
1991 M., Amiotti; A., Borghesi; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio
THEORY AND EXPERIMENT ON THE OPTICAL-PROPERTIES OF CRSI2
1992 Bellani, V; Guizzetti, G; Marabelli, F; Piaggi, A; Borghesi, A; Nava, Filippo; Antonov, Vn; Antonov, Vn; Jepsen, O; Andersen, Ok; Nemoshkalenko, Vv
Processing high-quality silicon for microstrip detectors
1992 Nava, Filippo; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; A., Alberigi Quaranta; P., Cantoni; P. L., Frabetti; L., Stagni; G., Queirolo; P. F., Manfredi
Electrical and optical properties of silicide single crystals and thin films
1993 Nava, Filippo; K. N., Tu; O., Thomas; J. P., Senateur; R., Madar; A., Borghesi; G., Guizzetti; U., Gottlieb; O., Laborde; Bisi, Olmes
Electric-field behavior and charge-density distribution in semi-insulating gallium arsenide Schottky diodes
1997 Castaldini, A; Cavallini, A; Polenta, L; Canali, C; Delpapa, C; Nava, Filippo
Analysis of uniformity of as prepared and irradiated SI GaAs radiation detectors
1998 Nava, Filippo; P., Vanni; C., Canali; G., Apostolo; C., Manfredotti; P., Polesello; E., Vittone
Evidence for plasma effect on charge collection efficiency in proton irradiated GaAs detectors
1999 Nava, Filippo; P., Vanni; Canali, Claudio; E., Vittone; P., Polesello; U., Biggeri; C., Leroy
Integration of front-end electronics with GaAs pixel detectors: Experimental and feasibility analysis
1999 G., Bertuccio; Canali, Claudio; G., De Geronimo; A., Longoni; Nava, Filippo; C., Lanzieri
Polymerization and Characterization of 4,4’-bis(alkylsulfanyl)-2,2’-bithiophenes
1999 Iarossi, Dario; Mucci, Adele; Schenetti, Luisa; Seeber, Renato; F., Goldoni; Affronte, Marco; Nava, Filippo
Epitaxial silicon carbide charge particle detectors
1999 Nava, Filippo; P., Vanni; C., Lanzieri; Canali, Claudio
Charge particle detection properties of epitaxial 4H-SiC Schottky diodes
2000 Verzellesi, Giovanni; Vanni, Paolo; Nava, Filippo; E., Vittone; C., Manfredotti; A., LO GIUDICE; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta; R., Nipoti; C., Donolato
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Diffusion coeffcient of electrons in Si | 1-gen-1981 | Brunetti, Rossella; Jacoboni, Carlo; Nava, Filippo; L., Reggiani; G., Bosman; R. J. J., Zijlstra | |
Diffusion coefficient of electrons in silicon | 1-gen-1981 | Brunetti, R.; Jacoboni, C.; Nava, F.; Reggiani, L.; Bosman, G.; Zijlstra, R. J. J. | |
Electrical and structural characterization of Nb - Si thin film alloys | 1-gen-1986 | Nava, Filippo; P., Psaras; H., Takai; K. N., Tu; Valeri, Sergio; Bisi, Olmes | |
Electrical characterization of alloy thin films of VSi2 and V3Si | 1-gen-1986 | Nava, Filippo; Bisi, Olmes; P., Psaras; H., Takai; K. N., Tu | |
Electrical transport properties of V3Si, V5Si3 and VSi2 thin films | 1-gen-1986 | Nava, Filippo; Bisi, Olmes; K. N., Tu | |
Electrical and optical properties of near-noble silicides | 1-gen-1987 | Bisi, Olmes; M. G., Betti; Nava, Filippo; A., Borghesi; G., Guizzetti; L., Nosenzo; A., Piaggi | |
Far Infrared Vibrational Spectroscopy in CrSi_2 | 1-gen-1990 | A., Borghesi; A., Piaggi; Franchini, Anna; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio | |
Optical and vibrational properties of Cr and Fe disilicides | 1-gen-1990 | A., Borghesi; A., Piaggi; A., Stella; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio | |
OPTICAL STUDY OF NIOBIUM DISILICIDE POLYCRYSTALLINE FILMS | 1-gen-1991 | Amiotti, M; Borghesi, A; Marabelli, F; Guizzetti, G; Nava, Filippo | |
Far-infrared spectroscopy of thermally annealed tungsten silicide films | 1-gen-1991 | M., Amiotti; A., Borghesi; G., Guizzetti; Nava, Filippo; Santoro, Giorgio | |
THEORY AND EXPERIMENT ON THE OPTICAL-PROPERTIES OF CRSI2 | 1-gen-1992 | Bellani, V; Guizzetti, G; Marabelli, F; Piaggi, A; Borghesi, A; Nava, Filippo; Antonov, Vn; Antonov, Vn; Jepsen, O; Andersen, Ok; Nemoshkalenko, Vv | |
Processing high-quality silicon for microstrip detectors | 1-gen-1992 | Nava, Filippo; Ottaviani, Giampiero; Tonini, Rita; Frabboni, Stefano; A., Alberigi Quaranta; P., Cantoni; P. L., Frabetti; L., Stagni; G., Queirolo; P. F., Manfredi | |
Electrical and optical properties of silicide single crystals and thin films | 1-gen-1993 | Nava, Filippo; K. N., Tu; O., Thomas; J. P., Senateur; R., Madar; A., Borghesi; G., Guizzetti; U., Gottlieb; O., Laborde; Bisi, Olmes | |
Electric-field behavior and charge-density distribution in semi-insulating gallium arsenide Schottky diodes | 1-gen-1997 | Castaldini, A; Cavallini, A; Polenta, L; Canali, C; Delpapa, C; Nava, Filippo | |
Analysis of uniformity of as prepared and irradiated SI GaAs radiation detectors | 1-gen-1998 | Nava, Filippo; P., Vanni; C., Canali; G., Apostolo; C., Manfredotti; P., Polesello; E., Vittone | |
Evidence for plasma effect on charge collection efficiency in proton irradiated GaAs detectors | 1-gen-1999 | Nava, Filippo; P., Vanni; Canali, Claudio; E., Vittone; P., Polesello; U., Biggeri; C., Leroy | |
Integration of front-end electronics with GaAs pixel detectors: Experimental and feasibility analysis | 1-gen-1999 | G., Bertuccio; Canali, Claudio; G., De Geronimo; A., Longoni; Nava, Filippo; C., Lanzieri | |
Polymerization and Characterization of 4,4’-bis(alkylsulfanyl)-2,2’-bithiophenes | 1-gen-1999 | Iarossi, Dario; Mucci, Adele; Schenetti, Luisa; Seeber, Renato; F., Goldoni; Affronte, Marco; Nava, Filippo | |
Epitaxial silicon carbide charge particle detectors | 1-gen-1999 | Nava, Filippo; P., Vanni; C., Lanzieri; Canali, Claudio | |
Charge particle detection properties of epitaxial 4H-SiC Schottky diodes | 1-gen-2000 | Verzellesi, Giovanni; Vanni, Paolo; Nava, Filippo; E., Vittone; C., Manfredotti; A., LO GIUDICE; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta; R., Nipoti; C., Donolato |
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