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Problemi connessi alla valutazione ed all'impiego di contenitori plastici in applicazioni a vita utile molto lunga 1-gen-1976 Basile, L; Fantini, Fausto
CMOS reliability: a useful case history to revise extrapolation effectiveness, lenght and slope of the learning curve 1-gen-1981 Brambilla, P.; Fantini, Fausto; Malberti, P.; Mattana, G.
On the use of matrix algebra for the description of EPROM failures 1-gen-1981 Morandi, C.; Fantini, Fausto
Reliability problems in TTL-LS devices 1-gen-1981 Canali, C.; Fantini, Fausto; Gaviraghi, S.; Senin, A.
Failure modes induced in TTL-LS bipolar logics by negative inputs 1-gen-1982 C., Canali; Fantini, Fausto; G., Soncini; P., Venturi; E., Zanoni
EPROM testing - part I: theoretical considerations 1-gen-1982 Alliney, S.; Fantini, Fausto; Morandi, C.
Electrical degradation of n-Si/PtSi/(Ti-W)/Al Schottky contacts induced by thermal treatments 1-gen-1982 Canali, C.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.
Bipolar Schottky logic device failure modes due to contact metallurgical degradation 1-gen-1982 Canali, C.; Fantini, Fausto; Vanzi, M.; Soncini, G.; Zanoni, E.
EPROM testing - part II: application to 16K N-channel devices 1-gen-1982 Alliney, S.; Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.
Interdiffusion and compound formation in the c-Si/PtSi/(Ti-W)/Al system 1-gen-1982 Canali, C.; Celotti, G.; Fantini, Fausto; Zanoni, E.
Failure mechanisms and analysis of very large scale integrated circuits 1-gen-1983 Fantini, Fausto; G., Mattana
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore - parte prima 1-gen-1983 Fantini, Fausto; G., Mattana; E., Zanoni
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore - parte seconda 1-gen-1983 Fantini, Fausto; G., Mattana; E., Zanoni
Updating of CMOS reliability 1-gen-1983 P., Brambilla; Fantini, Fausto; G., Mattana
Anodic Gold corrosion in plastic encapsulated devices 1-gen-1983 Brambilla, E.; Brambilla, P.; Canali, C.; Fantini, Fausto; Vanzi, M.
Investigation of information loss mechanisms in EPROMs 1-gen-1983 Bertotti, D.; Fantini, Fausto; Morandi, C.
PROBLEMATICHE CONNESSE CON IL COLLAUDO DEI CIRCUITI INTEGRATI DIGITALI 1-gen-1984 Fantini, Fausto; C., Morandi; A., Senin
Reliability problems with VLSI 1-gen-1984 Fantini, Fausto
Failures induced by electromigration in ECL 100k devices 1-gen-1984 C., Canali; Fantini, Fausto; E., Zanoni; A., Giovannetti; P., Brambilla
Power GaAs MESFET: reliability aspects and failure mechanisms 1-gen-1984 C., Canali; F., Castaldo; Fantini, Fausto; D., Ogliari; M., Vanzi; M., Zicolillo; E., Zanoni
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