Sfoglia per Autore
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization
2016 Puglisi, Francesco Maria; Costantini, Felipe; Kaczer, Ben; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise
2016 Puglisi, Francesco Maria; Costantini, Felipe; Kaczer, Ben; Larcher, Luca; Pavan, Paolo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization | 1-gen-2016 | Puglisi, Francesco Maria; Costantini, Felipe; Kaczer, Ben; Larcher, Luca; Pavan, Paolo | |
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise | 1-gen-2016 | Puglisi, Francesco Maria; Costantini, Felipe; Kaczer, Ben; Larcher, Luca; Pavan, Paolo |
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile